1.

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Las composiciones químicas exactas (en masa%) de las aleaciones Hastelloy

X con 0 y 0.12 Yttrium se llaman HX y HXA, respectivamente, y se muestran en la Tabla 1. Estas dos muestras se construyeron en forma de un cubo de 45 × 45 × 45 mm mediante la máquina EOS M290 SLM (EOS, Robert-stirling/stirling 1, 82152, KRAILLING, BAVARIA, ALEMANIA) en una Atmósfera protectora AR utilizando polvos pre#alloyed y los mismos parámetros de procesamiento. Realizamos un tratamiento térmico estándar para los especímenes HX y HX+A. tratamiento térmico en solución (ST) se realizó a 1177 ◦C durante 2 h, seguido de aire de refrigeración a la temperatura ambiente-----

 Para el ensayo de fluencia, se cortó el Cubo en una serie de losas con un espesor de 3,1 mm; Desde estas losas, las muestras de prueba de fluencia se cortaron utilizando una máquina de corte de alambre ElectroDiscarge. Las dimensiones de calibre de cada espécimen fueron 19.6 × 2.8 × 3.0 mm. Realizamos la prueba de fluencia en condiciones de MPa de 900

80. Las muestras se pulieron utilizando un papel de esmeril de SIC hasta el grado 1200

, seguido de la pasta de diamante hasta la sílice coloidal (0,5 μm) utilizando un pulido automático de Struers (Ballerup, Dinamarca). Todas las muestras se lavaron luego con etanol en un baño ultrasónico durante 10 min. Engetamos las muestras con un 20% de solución de agua de ácido fosfórico80% para observar los límites de la piscina fundida. La observación microestructural se realizó utilizando un microscopio óptico (OM; Olympus Corp. Tokio, Japón), un microscopio de electrones de exploración (SEM; HISTACHI, LTD., TOKYO, JABÓN), Energy DISPERSIVE Spectroscopy (EDS) (S3700N Tipo EDS Equipo fabricado por Horiba Seisakusho Co., Ltd., Kyoto, Japón) y Microscopía electrónica de emisión de campo (FESEM) (JSMSEM) (JSM

SEM) (JSM

SEM) (JSMSEM) (JSM SEM) (JSMSEM) (JSMSEM), JEOL, TOKIO, JAPÓN) se adjunta a un EDS (Edaxametex 9424). La imagen J Software (64BIT Java 1.8.0_172) se utilizó para analizar mediciones de fracción y porosidad de crack.

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n

\\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\nFigure 1 muestra el HX y HX \\ Las microestructuras ópticas de los especímenes de NA en la condición AS \\ NBUILT. Todos fueron fabricados utilizando los mismos parámetros de procesamiento. El espécimen HX \\ NA exhibió más grietas que HX (Figura 1A) porque el espécimen HX \\ NA contenía elementos de aleación de Yttrium (Y) adicionales que carecían del espécimen HX. El puntonotable es que todas las grietas eran paralelas a la dirección del edificio (BD) (Figura 1B). Las fracciones de la grieta para el HX y HX \\na especímenes son 1% y 5%, respectivamente. \\ N \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\nF \\n \\nigure 2 muestra micrografías SEM de las como \\nbuilt muestra. En una ampliación más baja, todas las muestras mostraron límites de piscina fundida y estructuras de solidificación, como los límites de grano y las dendritas (Figura 2A, B para HX y Figura 2C, D para HX \\ NA). La Figura 2B muestra grietas en una ampliación más alta en el espécimen HX. En ambos especímenes, las grietas se formaron a lo largo del límite del grano y aparecieron en las regiones interdedríticas. \\ N \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\nLe realiza exploraciones de mapeo EDS en las grietas de la HX y HX \\na especímenes. El análisis de EDS reveló los carburos SIC y la formación W6C en el espécimen HX (Figura 3A). En el HX \\na espécimen, EDS de mapeo en la grieta mostró la formación de YC (Figura 3b) \\n \\n. \\ N \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\nFigure 4 muestra eds mapeo del espécimen HX \\ NA como \\ Nbuilt, que indica la existencia de partículas de óxido y óxido SI (Yttria) y óxido SI (sílice) dentro del grano. Los mapas de orientación cristalográfica de la difracción de backscatter (EBSD) de electrones de ambas muestras en la condición AS \\ Nbuilt (Figura 5) revelaron los granos columnares orientados casi paralelos a la dirección del edificio. En el espécimen HX, algunos granos están orientados en la dirección y algunos están en la dirección (Figura 5a). Por otro lado, los granos en el HX \\na espécimen son algo más fino y principalmente orientadas en la dirección (Figura 5b) \\n \\n. \\ N \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n